晶体取向和相分布自动分析系统

型 号:ASTAR
价 格:0元
 ASTAR相当于扫描电镜上的EBSD, 与SEM-EBSD技术相比, 在TEM上使用电子衍射花样进行晶体取向和相分布的ASTAR技术具有以下的优点:
- 空间分辨率更高: 在TEM上非常容易实现纳米尺度分辨率, 而EBSD的分辨率在微米级;
- 样品适应性更广: ASTAR基于对电子衍射花样进行分析, 只要是晶体样品就可以分析;而EBSD技术基于菊池线花样, 很多样品无法进行分析;
- 样品制备更容易: ASTAR对所有TEM晶体样品都可以分析; 而EBSD对样品制备要求非常苛刻。
 详细介绍

 

ASTAR透射电镜晶体取向和晶相分布自动分析系统

 

- 电子束的扫描和旋进由专门的设备SPINNING STAR控制, 无需STEM附件
- 空间分辨率: FEG-TEM <5nm, LaB6-TEM <20nm
- 衍射花样采集速度: 使用专门的高速CCD相机最大可达175个花样/秒
- 晶体取向分析的角度分辨率可达1°
- 生成晶相分布和晶体取向图, 以及虚拟明场像、相关指数图、可靠性图等
- 适合于各种晶体, 包括陶瓷、有机晶体及变形的晶体等
- 可安装在任何新的或旧的透射电镜上(100-400kV)

 

 ASTAR相当于扫描电镜上的EBSD, 与SEM-EBSD技术相比, 在TEM上使用电子衍射花样进行晶体取向和相分布的ASTAR技术具有以下的优点:

- 空间分辨率更高: 在TEM上非常容易实现纳米尺度分辨率, 而EBSD的分辨率在微米级;

- 样品适应性更广: ASTAR基于对电子衍射花样进行分析, 只要是晶体样品就可以分析;而EBSD技术基于菊池线花样, 很多样品无法进行分析;

- 样品制备更容易: ASTAR对所有TEM晶体样品都可以分析; 而EBSD对样品制备要求非常苛刻。

 


ASTAR基本原理和分析过程:

使用NanoMEGAS SPINNING STAR旋进电子衍射控制器控制TEM电子束的扫描和旋进, 对样品中感兴趣的区域进行扫描; 使用专门的外置CCD相机采集每一个扫描点的电子衍射点花样; 使用互相关算法比较所记录的衍射花样和所有可能取向和/或相的模拟计算花样(模板), 以标定当前点的晶体取向和/或相。透射电镜不需要一定安装有STEM单元。

 

在电子束扫描过程中, 叠加旋进电子衍射, 大幅度改善电子衍射花样的质量,提高衍射花样鉴别的准确性,可消除选区电子衍射标定的不确定性。

 

 

钙铝石晶体取向分析

样品: Mayenite 钙铝石(Ca12Al14O33)晶体, 正六四面体, 空间群 I 43d。 JEOL 3010 TEM, 电子束扫描步长 28 nm。

晶体取向图的质量由于采用了旋进电子衍射技术而得到显著提高, 与只采用选区电子衍射技术中产生许多错误的晶体取向识别相比, 电子束扫描过程中叠加旋进子衍射技术以后, 描绘出了每一个晶粒中真实一致的晶体取向。


 

 

 >>返回顶端


应用实例

 

剧烈变形铜合金样品分析
在大约5分的时间内采集了200x250个衍射花样, 电子束扫描步长20nm (JEOL 3010 TEM)。(a)彩色图表示出了晶粒和孪晶的晶体取向, (b)虚拟明场像, (c)匹配关联指数图, (d)可靠性图。

 

氧化铁纳米颗粒相鉴定
氧化铁纳米颗粒可能的相有2种:  Fe3O4 (立方晶系 , a=8.32Å)和 γ-Fe2O3 (立方晶系 P4132, a=8.32Å).
使用常规选区电子衍射和能谱分析等方法都无法快速正确地鉴别晶相类型。使用ASTAR可以准确地得到晶体取向和相分布图。

 

铜样品中的纳米孪晶

 

相变诱发塑性(TRIP)奥氏体不锈钢分析

 

 

石棉颗粒快速相鉴定
将样品的实验旋进电子衍射花样与所有可能的青石棉和温石棉的晶体取向模板和进行比对,在不到一分钟的时间内, 完成晶相鉴定, 确定样品为青石棉。
即使对样品中一个区域进行扫描, 然后进行分析, 也只需要几分钟到十几分钟的时间。

 

 >>返回顶端

 更多信息...

 



 

设为首页 | 加入收藏 | 联系我们    上海育丰国际贸易有限公司 版权所有 Copyright © 2011-2017   沪ICP备11024461号

Powered by PageAdmin CMS